Raster Kraft Mikroskopie (AFM)

 

Eine Messspitze, die sich auf einem elastisch biegsamen Hebelarm (Cantilever) befindet, wird als Messsonde in geringem Abstand über die Probenoberfläche geführt. Ein piezoelektrischer Scanner bewegt hierfür entweder die Spitze über die Probe oder die Probe unter der feststehenden Spitze. Die Verbiegungen des Hebelarms hervorgerufen durch Kräfte zwischen Probe und Spitze werden hochaufgelöst gemessen, indem ein Laserstrahl auf die Spitze gerichtet wird und der reflektierte Strahl mit einem Photodetektor aufgefangen wird. Die Verbiegungen des Hebelarms geben Aufschluss über die Oberflächeneigenschaften der Probe.

Das AFM kann in verschiedenen Betriebsmodi betrieben werden. Die beiden Häufigsten sind:
  • Kontakt Modus (Die Abtastnadel ist in direktem Kontakt mit der Probenoberfläche.)
  • Tapping oder Intermittent-Contact Modus (Die Blattfeder, an der die Abtastnadel befestigt ist, wird zu Schwingungen angeregt und "schwebt" über der Probenoberfläche.)

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